15501138672
PRODUCT CENTER

产品中心

当前位置:首页产品中心半导体失效分析系统-微光显微镜PHEMOS-1000 微光显微镜 C11222-16

PHEMOS-1000 微光显微镜 C11222-16
产品简介:

PHEMOS-1000是一款高分辨率的微光显微镜,通过侦测半导体缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导体器件的失效位置

产品型号:

更新时间:2025-05-09

厂商性质:经销商

访问量:419

服务热线

立即咨询
产品介绍

PHEMOS-1000是一款高分辨率的微光显微镜,通过侦测半导体缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导体器件的失效位置。
设备既可以与通用型探针台组合使用,也可搭载滨松Tilt Stage配合Nano Lens进行动态失效分析。

PHEMOS-1000支持从Probe Card到12英寸大尺寸晶圆的多种任务和应用范围需求。



673

产品配置(可选配)

● 激光扫描系统

● 高灵敏度近红外相机进行光发射分析

(根据客户样品特点对不同波长范围的光发射探测可以选配不同型号相机,InGaAs, C-CCD, Si-CCD, Emmi-X)

● 高灵敏度中红外Thermal相机进行热分析
● 激光诱导阻值变化分析(OBIRCH)

● D-lock in

● Thermal Lock in

● EOP/EOFM
● Tilt Stage
● Nano Lens 进行高分辨率、高灵敏度分析
● Navigation功能
● 连接测试机进行动态分析
● Laser Marker

外形尺寸

674

675

676


在线留言

ONLINE MESSAGE

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
联系方式

(全国服务热线)

北京市顺义区南法信旭辉空港中心3号楼629室

lyzhao@gsttech.cn

扫码加微信

Copyright © 2025司迈实科技(北京)有限公司 All Rights Reserved   工信部备案号:京ICP备19009992号-4

技术支持:化工仪器网   管理登录   sitemap.xml

关注

联系
联系
顶部